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美国J Chadwick数字光学测微计8400K光学深度千分尺套件

发布时间:2025-07-10人气:0

J Chadwick 8400K 数字光学深度千分尺

快速、可靠且重复性高。消除目视检查中的不确定性。

8400K 光学深度测量千分尺是一款便携式检测显微镜,具备深度测量功能。它能准确地测量划痕、裂纹、裂缝、龟裂、腐蚀坑、刻痕及其他表面损伤的深度。操作简便,无需特殊培训或专业知识即可使用。8400K 坚固耐用、便于携带,且可轻松在内部进行校准。8400K 可用于平坦或曲面、金属、塑料、复合材料、涂漆或化学处理表面,以及透明材料,放大倍率范围为 40X 至 200X,深度测量精度为 ±0.001 英寸。

特点

  • 坚固耐用且便携

    8400K 为现场使用设计。密封的非磁性外壳具备防尘和抗震功能,可承受日常车间使用。硬木仪器箱内还包含用于凸面、凹面或两者组合表面的适配器和镜头。

  • 实际成本节约

    使用 8400K,损伤可通过光学方式在其他方法(如“混合修复”)所需时间的 fraction 内完成测量。在可能需要更换的部件上花费时间是昂贵的。在许多情况下,8400K可用于检查飞机、管道等已安装的部件。

  • 串行端口用于PC访问

    除清晰的LCD显示屏“浮动零点”及其他功能外,8400K的数字显示屏还配备RS232串行端口,可将数据导出至可选的处理器/打印机。

8400K 数字光学千分尺套件规格

  • 精度    ±0.001英寸(±0.02毫米)

  • 分辨率    0.0005英寸(0.01毫米)

  • 放大倍率    80倍至200倍

  • 垂直范围    10倍物镜 - 最大深度 0.250英寸(6.4毫米)

  • 4倍物镜 - 最大深度 1.250英寸(32毫米)

  • 工作温度    32°F至140°F(0°C至60°C)

  • 存储温度    14°F 至 140°F(-10°C 至 60°C)

  • 套件尺寸    13“ x 11” x 6"(330 x 279 x 152mm)

  • 套件重量    6.5 磅(2.95 公斤)

  • 校准    推荐校准周期:12 个月

8400K 数字光学千分尺套件包含

  • 数字光学千分尺

  • 3 个可互换底座

  • 2 个目镜 - 10X、20X

  • 2 个物镜 - 4X、10X

  • 划痕样品板

  • LED手电筒

  • 带泡沫内衬的收纳盒

  • 2年保修

  • 制造商符合性证书

  • 精度证书


本文网址:http://www.coastchina.cn/show.asp?id=1585

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