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美国Metralight分体式标准非接触激光测微仪MX系列

发布时间:2026-09-30人气:5

MX 平行激光测径仪

产品特性

  • 结构紧凑

  • 无需外接独立控制器

  • 测量范围:0~28mm

  • 亚微米级分辨率,可达 0.4375μm

  • 非线性度<5μm

  • 重复性<3μm

  • 采样速度快,每秒 2500 次测量

  • 并行 TTL 接口

  • 670nm 激光二极管,1 类激光设备

应用场景

  • 适用于多行业各类材质测量(金属、塑料、玻璃、陶瓷、木材等)

  • 可测量工件边缘、间隙、直径、位置、厚度、高度、轮廓及振动

  • 管材的过程检测与抽样直径测量

  • 工件在线 / 离线非接触测量

  • 半导体大气 / 真空预对准

技术参数 | MX PAR 测微仪

分类项目参数
测量性能传感器量程140μm (0.006 in) ~ 28 mm (1.1 in)
分辨率(像素尺寸)0.4375 μm
重复性3 μm(边缘位置,标定距离下)*
响应时间0.391 ms
非线性度<5 μm(边缘位置,标定距离下)*
测量模式边缘 1、边缘 2、直径、间隙、中心、实体
自定义模式可联系 Metralight 获取额外自定义测量模式
接口状态指示灯绿色 LED = 传感器已开启;蓝色 LED = 检测到工件
I/O 连接器STMM-112-02-G-D-RA (Samtec)
I/O 接口并行二进制(TTL)
供电电源12~24 VDC / 80mA
通用参数检测方式670nm 1 类激光二极管,透射式 CCD 检测
外形尺寸99 × 50 × 22 mm (3.9" × 1.9" × 0.9");80 × 50 × 22 mm (3.15" × 1.9" × 0.9")
安装孔每台设备配备 8 处 M4 安装孔
重量236g (8oz)
工作温度0℃ ~ 50℃ (32℉ ~ 122℉)
存储温度-20℃ ~ 70℃ (-4℉ ~ 158℉)





本文网址:http://www.coastchina.cn/show.asp?id=2079

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