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StaticClean PV粒子真空StaticClean PV粒子真空 特征：颗粒真空吸尘器 (PV) 是一款紧凑型污染控制系统，旨在清洁作业过程中直接从源头去除灰尘、颗粒和表面污染物。PV 结合了强大的真空吸力和灵活的定位方式，有助于保持产品、工作站和生产环境的清洁。• 专为对污染敏感的应用…
StaticClean 粒子捕集器 PTMiniStaticClean 粒子捕集器 PTMini 特征：Particle Trap Mini 是一款紧凑型源头捕集式污染控制系统，专为洁净室和受控生产环境而设计。它利用负压气流，结合预过滤器和高效空气微粒过滤器 (HEPA)，可捕集清洁操作过程中产生的污染物，并防止颗粒物重…
StaticClean 粒子捕集立方体 PTCubePT-Cube是一款紧凑型污染控制和静电中和系统，旨在去除洁净室和受控生产环境中产品上的灰尘、颗粒和表面污染物。它结合了电离、过滤和封闭式清洁技术，有助于提高产品清洁度并减少污染相关的缺陷。• 紧凑型外壳，集静电消除和污染控制于一体…
StaticClean颗粒捕捉器 Particle Trap 6000-230StaticClean颗粒捕捉器 PT6000-230特征：Particle Trap 6000 是一款源头捕集式污染控制系统，专为洁净室和受控生产环境而设计。它利用高效空气微粒过滤器 (HEPA) 和负压气流，捕集清洁操作过程中去除的颗粒物，防止污染物重新进入…
【深圳湾边】德国OEG晶圆接触角测量仪：SURFTENS自动主要特点自动测量300毫米晶圆接触角软件控制的，全自动化测量序列确保旋转涂覆、平坦化和附着力的一致性直观的Windows操作系统和实时视频液滴分析
300mm 斯托克斯晶圆扫描™椭偏仪型号 LSE-WS 斯托克斯晶圆扫描椭偏仪是一款用于薄膜厚度分布成像的系统，测量速度可达每秒一个点位（包含样品台移动时间）。它采用斯托克斯计量技术，可在最大 300mm 的晶圆上提供免倾斜调整、免对焦操作的二维/三维厚度与折射率分布图。该仪器设…
多波长激光椭偏仪使用户在测量透明与半透明薄膜的厚度和折射率时具有灵活性与准确性。激光光源强度充足，可提升对吸收性薄膜和粗糙散射薄膜的测量精度。激光光源还具备光谱精确、稳定、使用寿命长的优势。独立的激光光源提供了重要的备份可靠性，适用于连续运行。产品特点测量厚…
斯托克斯微点椭偏仪 LSE-MS 拥有一束直径15微米的测量激光，配备手动XY微米级定位台，并可通过相机在您的PC上观察测量区域。LSE-MS椭偏仪采用StokesMeter™技术。该技术无需移动部件和调制器，即可快速、精确地确定以70°入射角入射的6328Å激光测量光束的完整偏振态。激光光源强…
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